Diferentes defectos encontrados en una muestra de quantum dots acoplados de InAs/GaAs tomados con microscopio de transmisión Jeol 2100 en contraste de difracción en la dirección 002DF (Imagen tomada por Verónica Braza y Daniel Fernández)
Diferentes defectos encontrados en una muestra de quantum dots acoplados de InAs/GaAs tomados con microscopio de transmisión Jeol 2100 en contraste de difracción en la dirección 002DF (Imagen tomada por Verónica Braza y Daniel Fernández)